×

Вы используете устаревший браузер Internet Explorer. Некоторые функции сайта им не поддерживаются.

Рекомендуем установить один из следующих браузеров: Firefox, Opera или Chrome.

Контактная информация

8 908 511 35 70
ivdon3@bk.ru

  • Разработка методов и алгоритмов диагностики устройств многофункциональной индикации с использованием предикативной аналитики

    • Аннотация
    • pdf

    В статье рассматривается проблема повышения надёжности устройств многофункциональной индикации (УМИ) в условиях цифровой трансформации производственных процессов. Предложен подход к предиктивной диагностике на основе анализа эксплуатационных и тепловых характеристик УМИ с использованием методов машинного обучения. Проведена классификация УМИ по физико-технологическим принципам и архитектурным уровням, что позволило структурировать диагностические модели. Рассматриваются математические методы предсказания отказов, включая логистическую регрессию, градиентный бустинг (CatBoost) и модели оценки остаточного ресурса. Особое внимание уделено разработке метода теплового профилирования Thermal Emission-Based UMI Profiling (TEB-UP), основанного на анализе тепловых карт и алгоритмах машинного зрения (PCA, автоэнкодеры, CNN). Показано, что температурная неравномерность является чувствительным индикатором деградации, опережающим традиционные показатели отказа. Метод TEB-UP демонстрирует потенциал к интеграции в системы мониторинга и предиктивного обслуживания в рамках концепций Индустрии 4.0 и 5.0.

    Ключевые слова: устройства многофункциональной индикации, предиктивная диагностика, тепловое профилирование, остаточный ресурс, машинное обучение

    2.3.3 - Автоматизация и управление технологическими процессами и производствами